「第65回機器による分析化学講習会~基礎から学ぶSEM及びXRFによる材料の微小領域分析~」と題し、日本分析化学会近畿支部などが主催する。開催日は7月13日、場所は大阪市淀川区の日本電子・西日本ソリューションセンター。プログラムは次の通り。
 ▽SEM及びXRFの基礎(日本電子・藤田憲市氏)▽FE-SEM及びEDSを用いた電池材料解析(奈良工業高等専門学校・山田裕久氏)▽卓上型蛍光X線分析装置の紹介と適用例(大阪市立大学大学院工学研究科・辻幸一氏)▽実習(日本電子・藤田憲市氏)=実習項目「SEMのための試料前処理方法、微小領域分析」「SEM-EDSによる元素分析とマッピング」「XRFによる元素分析」▽質疑応答
 申し込み締め切りは7月5日(定員30人になり次第締め切り)。申し込みは同支部(電話06-6441-5531、Eメールmail@bunkin.org、ホームページ(http://www.bunkin.org/)。(2018/6/14/3)

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