イーケム、反射率０・２以下の超低反射黒レジスト開発、撮像ノイズ抑制

　イーケムソリューションズジャパンは、反射率０・２以下の超低反射ブラックレジストを開発した。スマートフォンのカメラレンズ周りに用いると、光の散乱が抑えられ、ノイズの少ないＣＭＯＳイメージセンサーの撮像が可能になる。技術の要は貧溶媒／良溶媒の関係を利用し、熱処理時に溶質を析出させて表面をマット調に荒らす特許技術。開発品はラインエッジラフネス（ＬＥＲ）が１マイクロメートル以下で、超低反射とシャープなレジストパターンを両立する。間もなくサンプルワークを始め、ハイエンドスマホでの採用を目指す。続きは本紙で

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