OKIエンジニアリングは、電気自動車(EV)用パワー半導体向け故障発生時間連続モニター試験を開始する。炭化ケイ素(SiC)デバイスなどの信頼性試験が対象で、独自の全自動ログシステムを開発。恒温槽内で常時モニタリングを行い、高温逆バイアス試験(HTRB試験)でリーク電流を評価する。複数パワー半導体の並列試験にも対応し、試験時間も18%短縮した。7月22日から提供を開始し、年間売上高で5000万円を目指す。素子に加えてモジュールやウエハーなどの関連材料開発、評価用素子(TEG)など周辺需要も想定し、広く普及を図る。続きは本紙で

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